輝光放電質譜儀

性能指標：

儀器型號：Nu Astrum

縱向解析率：>0.1um

檢出限：ppb

元素測試范圍：Li-U

樣品需求:（塊狀樣品：5mm*5mm*30mm）（平面類樣品：20mm*20mm.厚度2mm以內 ）（粉末類樣品：大于5g）（ 顆粒類：大于5g難制樣)                 

禁忌樣品：易燃固體、毒性物質、氧化劑和過氧化物、放射性物質

主要用途：
輝光放電質譜（glow discharge mass spectrometry），簡稱GDMS，是利用輝光放電源作為離子源與質譜儀聯接進行質譜測定的一種分析方法。將輝光放電離子源和高分辨率質譜儀結合，主要應用于高純度無機固體材料的成分分析，可以一次掃描即可測量從鋰（Li）到鈾（U）之間所有元素成分。
配備針狀和片狀樣品架，可用于各種形態固體樣品，并對元素縱向濃度進行分析，具有基體效應小、線性動態范圍寬、檢測限低等優勢，也可對導體、半導體和絕緣材料進行分析。廣泛應用于高純金屬、合金、半導體材料、高純石墨等行業，為半導體材料制造行業和電子材料制造行業提供純度精確測量的方案。