廠商：日本電子 JXA-iHP200F

主要參數： 

元素分析范圍：4Be-92U

X射線取出角：40°

二次電子像分辨率：加速電壓30kV&10pA時，≤2.5nm；加速電壓10kV時，10nA~20nm； 100nA~50nm；

電子圖像放大倍數：40×~300000×，連續可調

分析精度：主元素（含量>5%）優于1%；次要元素（含量~1%）優于1%       

主要用途： 

JXA-iHP200F場發射電子探針顯微分析儀是由日本電子株式會社制造，該儀器配備了4道譜儀，全聚焦型晶體與半聚焦型晶體組合使用，可分析4Be至92U范圍內的全部元素，特別考慮與腐蝕相關的O、S和Cl等元素，并具備點、線、面掃描分析功能，能夠同時獲得二次電子像、背散射電子像，搭載高分辨率EBSD探頭，可同步實現微區內元素化學組成分析和物相分析。主要應用于材料科學、地球空間科學、礦物等資源能源研究，以及鋼鐵、汽車、電子零件和電池材料等各種工業領域。